I relatori,  Mike Santori, Jeff Kodoski e Richard McDonell,  hanno deciso di spostarsi al di quà del tavolo,  sostiuendo la tradizionale presentazione con una conversazione stile domanda e risposta.  Ne è nato un interessante discorso sullo stato della progettazione [...]]]> Diversamente dalle passate edizioni, la conferenza stampa di NIDays 2010 si è svolta in maniera totolmente  informale.

I relatori,  Mike Santori, Jeff Kodoski e Richard McDonell,  hanno deciso di spostarsi al di quà del tavolo,  sostiuendo la tradizionale presentazione con una conversazione stile domanda e risposta.  Ne è nato un interessante discorso sullo stato della progettazione grafica di sistemi e sull’attualità di LabVIEW.

Il nostro ringraziamento va a Valerio, Franco, Alessandra, Simona, Stefano, Mariano, Massimo e Arsenio, che contribuito a rendere piacevole il dialogo con i relatori. Un grazie anche a Massimo Rapini che ha tenuto un’appassionante presentazione di Multisim 11.

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Si è svolta mercoledì 24 febbraio 2010 presso l’Ergife Palace Hotel di Roma la diciassettesima edizione italiana di NIDays. L’evento che porta la firma di National Instruments e maggiormente [...]]]> L’edizione 2010 del Forum Tecnologico sulla Progettazione Grafica di Sistemi ha registrato la presenza di 450 partecipanti, confermandosi come l’edizione di maggior successo mai realizzata a Roma

Si è svolta mercoledì 24 febbraio 2010 presso l’Ergife Palace Hotel di Roma la diciassettesima edizione italiana di NIDays. L’evento che porta la firma di National Instruments e maggiormente rappresenta i valori, i contenuti, le strategie dell’azienda ha raccolto a Roma 450 tra visitatori tra ingegneri, tecnici, sviluppatori e professori, desiderosi di scoprire gli ultimi sviluppi nei settori del controllo, della progettazione, dell’automazione, della misura e dell’acquisizione dati. “I numeri ci hanno dato ragione anche questa volta,” ammette Lino Fiore, Managing Director di National Instruments Italy. “In un periodo di budget risicati e fortissima attenzione alle spese, NIDays non ha risentito della crisi, ma è anzi stato percepito come un evento di grande valore da parte delle aziende”.

La sessione plenaria ha ospitato due tra i principali strateghi e visionari di National Instruments: Jeff Kodosky, Socio Co-Fondatore e Mike Santori, Business and Technology Fellow di National Intruments Corporation.

Durante la keynote del mattino ci hanno accompagnati in un viaggio entusiasmante tra le sfide tecnologiche del futuro e le soluzioni con le quali National Instruments intende rispondere. Tutte le presentazioni della Keynote e delle sessioni tecniche pomeridiane saranno presto disponibili alla pagina web www.nidays.it

Premio Nicola Chiari per la Migliore Applicazione di Misura e Automazione 2010
Durante la mattinata si è svolta la tradizionale premiazione del “Premio Nicola Chiari per la Migliore Applicazione di Misura e Automazione 2010”. Di seguito i primi tre classificati:

Primo classificato
Raggiunge il gradino più alto del podio l’articolo applicativo “Sistema aptico master-slave per neurochirurgia robotizzata basato su NI CompactRIO e NI LabVIEW” delle Università di Udine e Padova: un significativo esempio di applicazione medicale che illustra la movimentazione in condizioni di massima sicurezza un robot destinato ad applicazioni di neurochirurgia minimo-invasiva.

Secondo classificato
Vince il secondo premio l’articolo “sistemi optoelettronici per portali multifunzione ferroviari” realizzato dall’azienda Q-Tech.

Terzo classificato
“L’esperimento di incendio di una carrozza metropolitana in galleria” redatto dall’azienda Sint Technology, che ha illustrato il processo di acquisizione dati per verificare le condizioni di vivibilità dell’ambiente, la resistenza di un treno della metropolitana e l’efficienza degli allarmi nel caso dell’incendio di un treno nella galleria, si è aggiudicato la medaglia di bronzo.

L’area espositiva di oltre 1000 mq e con ben 28 postazioni dimostrative si è dimostrata un elemento di grande interesse per i visitatori di NIDays 2010. Le aziende espositrici, Partner Tecnologici e Alliance Partner di National Instruments hanno mostrato le ultime novità di prodotto e applicazioni tecniche nei settori del controllo, del design, dell’automazione, della misura e dell’acquisizione dati.  Novità di quest’anno la sessione “LabVIEW  e la robotica educativa” della Scuola di Robotica, associazione no profit che coordina Robot@Scuola  il network italiano di scuole per l’uso didattico della robotica, che ha raccolto oltre trenta professori durante la mattinata di NIDays.

Strumentazione Elettronica,  sito dedicato a favorire la conoscenza della strumentazione elettronica professionale a tutti i livelli, incoraggiando lo scambio di idee, soluzioni e risposte tra utilizzatori, produttori e distributori di strumentazione che operano sul mercato italiano, ha inserito nella propria agenda la partecipazione a NIDays 2010.

Obiettivo del seminario sarà presentare la robotica educativa come efficace strumento didattico a docenti interessati a rafforzare l’uso di tali  metodologie e applicazioni didattiche e l’integrazione di [...]]]> Scuola di Robotica, associazione no profit che coordina Robot@Scuola  il network italiano di scuole per l’uso didattico della robotica, sarà ospite a NIDays 2010,  presentando il seminario  ”LabVIEW  e la robotica educativa”

Obiettivo del seminario sarà presentare la robotica educativa come efficace strumento didattico a docenti interessati a rafforzare l’uso di tali  metodologie e applicazioni didattiche e l’integrazione di LabVIEW con i kit robotici Lego nel proprio istituto superiore. Il seminario è aperto a docenti esperti e non e ai dirigenti scolastici.  Grazie al seminario i partecipanti conosceranno alcuni metodi per introdurre progetti di robotica educativa con LabVIEW nelle proprie scuole.  

Il seminario avrà luogo dalle ore 10:00 alle ore 13:00 in sala Gerasa, c/o Ergife Palace Hotel, Roma.
Per informazioni e prenotazioni, contattate l’indirizzo email: corsi.sdr@gmail.it

FlexyEOS rinnova la tua idea di test nei semiconduttori

FlexyEOS è un sistema innovativo dedicato al test di semiconduttori capace di riprodurre fenomeni di stress elettrico “Electrical Over-Stresses (EOS)”, che rappresentano la principale causa di fallimento sul campo dei circuiti integrati (IC), e la cui simulazione era fino ad ora difficile realizzazione.

Euro Instruments sarà presente a [...]]]>

FlexyEOS rinnova la tua idea di test nei semiconduttori

FlexyEOS è un sistema innovativo dedicato al test di semiconduttori capace di riprodurre fenomeni di stress elettrico “Electrical Over-Stresses (EOS)”, che rappresentano la principale causa di fallimento sul campo dei circuiti integrati (IC), e la cui simulazione era fino ad ora difficile realizzazione.

Euro Instruments sarà presente a Roma il 24 febbraio in occasione dell’ NIDays 2010 – “Forum Tecnologico sulla Progettazione Grafica di Sistemi” come Platinum Sponsor per mostrare i propri sistemi, tecnologie ed applicazioni sviluppati su piattaforma NI LabVIEW.
Come ben noto, le aziende produttrici di semiconduttori, prima di immettere sul mercato un nuovo dispositivo (IC), ne valutano le prestazioni sottoponendolo a svariati test, che possono essere fisici o elettrici, statici o dinamici.
Tra questi sono presenti test di OLT “Operating Life Test” che consistono nello stressare il dispositivo in condizioni operative e alla massima tensione di lavoro, e di HTRB “High Temperature Reverse BIAS” che sono condotti in condizioni statiche.
Ogni prova richiede la produzione di schede dedicate in cui alloggiare i dispositivi sotto test (DUT “Device Under Test”) e l’utilizzo di sistemi multi-site dai costi elevati.
Una volta che il circuito integrato (IC) ha superato tutti i test e viene immesso sul mercato, dove trova utilizzo in molteplici applicazioni, può capitare il verificarsi di fallimenti sul campo, per i quali risulta molto difficile individuare a posteriori la causa generante.
Rapporti pubblicati dimostrano che almeno il 40% dei fallimenti dei circuiti integrati è dovuto a “Electrical Over-Stresses” (EOS), che inglobano vari fenomeni elettrici, tra cui rapidi transitori di tensione “spikes” condotti sui pin di alimentazione e di I/O del dispositivo. 
In questo scenario, Euro Instruments ha realizzato FlexyLAB, che rappresenta un sistema di test compatto e versatile capace di effettuare il test di continuità elettrica di mini-board, prove di OLT ed HTRB e, assolutamente innovativo, riprodurre fenomeni di EOS sulle alimentazioni e sui pin di I/O del dispositivo in condizioni operative.
FlexyLAB, utilizzato in configurazione FlexyEOS, permette ai produttori di semiconduttori di prevedere le cause dei fallimenti sul campo degli integrati, ricreando eventi di EOS in un sistema compatto ed economico.
Il sistema è basato su un rack PXI National Instruments a 18 slot, che include schede DAQ, Digital I/O, Industrial Digital Output e un Embedded Controller.
L’applicazione FlexyEOS è stata sviluppata in ambiente LabVIEW e include l’interfaccia utente, la gestione delle alimentazioni e dei pattern, gli stimoli digitali ed analogici verso il dispositivo, i monitoraggi e la configurazione, generazione e gestione degli eventi EOS.
FlexyEOS, rappresenta un’innovazione assoluta nel campo del testing dei circuiti integrati, consentendo ai produttori di semiconduttori di valutare la robustezza dei dispositivi ad eventi EOS prima che vengano immessi sul mercato, riducendo drasticamente i costi ed i tempi di un’analisi a posteriori effettuata sui pezzi falliti di ritorno dal campo. Grazie al rapporto di collaborazione instaurato con National Instruments, il nostro team di larga  esperienza, ha potuto migliorare le proprie conoscenze ed abilità nella programmazione grafica di sistemi ed è in grado di sviluppare applicazioni in molteplici ambiti dell’elettronica.

Informazioni su Euro Instruments

Euro Instruments è un’azienda di ingegneria elettronica molto dinamica e attiva in vari settori, dalla microelettronica, alle energie rinnovabili, la building automation e l’automazione industriale.
Siamo in grado di ingegnerizzare, progettare e produrre schede elettroniche, seguendo le specifiche dettate dal cliente e senza il supporto di terze parti, grazie alla presenza di reparti interni di R&D, CAD, produzione e collaudo. 
Euro Instruments, utilizzando simulatori 2D e 3D per l’integrità di potenza e di segnale (Signal & Power Integrity) e sistemi di ispezione ottica automatici (AOI) e a raggi X, garantisce un controllo efficace dell’intero flusso di realizzazione, che si traduce in un prodotto finale di qualità superiore.

Euro Instruments è certificata UNI EN ISO 9001:2008 e UNI EN ISO 14001:2004. 

Contatti:

Euro Instruments srl
tel: +39 030/713441
E-Mail: info.ei@euroinstruments.it

La nuova versione GSM Tool Box integra funzioni GPS, rendendo questo apprezzato e conosciuto tool di sviluppo per LabVIEW, una piattaforma ideale per le applicazioni M2M e di monitoraggio remoto

Sitem ha annunciato l’uscita della nuova versione del noto GSM Tool Box, l’unico add-on esistente al mondo per NI LabVIEW per la gestione completa sia di [...]]]>

La nuova versione GSM Tool Box integra funzioni GPS, rendendo questo apprezzato e conosciuto tool di sviluppo per LabVIEW, una piattaforma ideale per le applicazioni M2M e di monitoraggio remoto

Sitem ha annunciato l’uscita della nuova versione del noto GSM Tool Box, l’unico add-on esistente al mondo per NI LabVIEW per la gestione completa sia di funzioni GSM e GPRS e, adesso, anche GPS. GSM Tool Box è uno strumento indispensabile per gli sviluppatori di sistemi basati sullo standard di programmazione grafica LabVIEW. Il software consente l’utilizzo sia di modem GSM-GPRS (ora anche con funzioni integrate GPS), che di modem standard in modo semplice e immediato grazie a una ricca serie di icone strutturate in due livelli gerarchici, High Level e Low Level. Le icone, comprensive di help di tipo contestuale, sono progettate in modo da essere facilmente utilizzate in cascata per inizializzare e gestire una comunicazione o lo scambio di dati utilizzando un modem connesso sulla porta seriale o USB, con particolare attenzione ai servizi che le reti GSM-GPRS-GPS mettono a disposizione (e-mail, FTP, posizione ecc).

Con la crescita costante di applicazioni M2M e di monitoraggio remoto basate su tecnologia wireless, risulta evidente l’importanza di trovare un tool di sviluppo che permetta ai programmatori di implementare affidabili soluzioni integrate per lo scambio dati con postazioni remote non presidiate e informazioni di posizionamento. La nuova versione del GSM Tool Box si avvale dell’esperienza pluriennale di Sitem nello sviluppo e ingegnerizzazione di sistemi di acquisizione dati e collaudo per offrire una soluzione di facile utilizzo, in grado di fornire strumenti di comunicazione e scambio dati nonché informazioni di posizionamento date dalla infrastruttura GPS. Il valore aggiunto della soluzione è rappresentato dalla possibile integrazione sia in nuovi progetti LabVIEW, sia con progetti pre-esistenti, sia su piattaforma Windows che su tutte le piattaforme real-time di National Instruments, siano esse Compact FieldPoint, PXI, Industrial Controllers e soluzioni FPGA-based (CompactRIO, Compact Vision System).

L’adozione su larga scala della tecnologia wireless e la pressoché totale copertura della rete GSM-GPS, consente di rispondere alle sfide portate da applicazioni di misura distribuite e portatili, tra cui citiamo il monitoraggio strutturale e ambientale, il monitoraggio del consumo energetico, il monitoraggio dei servizi mobili, il controllo del territorio, la gestione flotte e tutte le applicazioni machine-to-machine in siti non presidiati. Questa tecnologia permette di ridurre drasticamente i costi di gestione e implementazione della soluzione stessa (si pensi per esempio al solo costo per il cablaggio di una linea dati in zone di difficile accesso). Con la flessibilità dell’ambiente di programmazione grafica LabVIEW, il GSM Tool Box semplifica e accelera lo sviluppo di tali applicazioni consentendo la connessione e l’interazione remota con i sistemi di acquisizione dati.

I dispositivi supportati dal GSM Tool Box sono molteplici e si rimanda pertanto al sito web www.sitemnet.it per la consultazione e valutazione della tecnologia. Sul sito è anche possibile acquistare il tool.

Informazioni su Sitem
Sitem è una azienda certificata UNI EN ISO 9001 – 2000, che da più di dieci anni opera a livello nazionale ed internazionale nel settore del Test e della Misura e della Automazione Industriale in molti mercati (elettronica, telecomunicazioni, automotive, difesa aerospaziale, energia, chimica e medicale). Sitem si propone al mercato come System Integrator in grado di implementare applicazioni PC-based e piattaforme real-time, garantendo soluzioni flessibili che portano il dato dal campo direttamente all’operatore, assicurando, quindi, la mobilità ed esportabilità del dato stesso grazie anche all’integrazione di prodotti di terze parti.

Sitem è Alliance Member di National Instruments dal 2000 e, grazie all’esperienza maturata anche nel campo dell’automazione industriale, fa parte del consorzio Profibus Network Italia.

Per ulteriori informazioni:

Alessandro Lugli
Marketing Communications Manager
SITEM Srl
Tel 010 6591757 / 010 4207163
alessandro.lugli@sitemnet.it